Problemy i postęp w metrologii

Nowe technologie i związane z nią zagadnienia dotyczące pomiarów są stale obecne w naszej rzeczywistości i trudno wyobrazić sobie funkcjonowanie bez nich. 6 czerwca na Wydziale Elektrycznym Politechniki Śląskiej odbędzie się XIV konferencja naukowo-techniczna Problems and Progress in Metrology (PPM), podczas której naukowcy i specjaliści zajmujący się metrologią będą prezentowali wyniki swoich badań. Wydarzenie odbędzie się pod honorowym patronatem Prezydenta Gliwic Adama Neumanna, który zasiądzie również w Komitecie Honorowym Konferencji.

Konferencja Problems and Progress in Metrology od lat integruje środowisko metrologiczne – praktyków z przemysłu i laboratoriów akredytowanych, służby miar oraz uczelni wyższych. Konferencja poświęcona będzie nowoczesnym technologiom, szeroko pojętym pomiarom i Internetowi Rzeczy.

– Celem konferencji jest wymiana poglądów i rozwój współpracy między środowiskiem metrologów akademickich i metrologów praktyków, zatrudnionych w krajowej służbie miar, w laboratoriach akredytowanych oraz w przemyśle – mówi prof. Marian Kampik, dziekan Wydziału Elektrycznego, który wraz z Katedrą Metrologii, Elektroniki i Automatyki organizuje wydarzenie.
Więcej informacji na temat konferencji można znaleźć na stronie internetowej: http://ppm.polsl.pl. (mf)